MIL-STD-202温度冲击测试：三木科技两槽式冷热冲击试验箱

在电子半导体领域中，芯片、PCB和功率器件等领域的可靠性测试;其中MIL-STD-202 仍是军用元件认证的基础标准。适用于电阻、电容、电感、变压器、继电器、连接器、开关等被动和机电元件。三木科技自主研发的两槽式冷热冲击试验箱,严格遵循 MIL-STD-202 中 Method 107(热冲击)——评估元件在极端温度快速变化下的可靠性等国际测试标准，通过快速高低温转换，模拟严苛环境，为产品提供全面的可靠性验证方案。

三木科技两槽式冷热冲击试验箱的基本参数：

温度冲击范围：-55℃～+150℃

温度波动度：±1.0℃

低温预冷时间：+25.0℃~-70.0℃ 60分钟内，1.0~3.0℃/分钟

高温预热时间：+25.0℃~+200.0℃ 45分钟内，3.0~7.0℃/分钟

温度转换时间：10s

温度恢复时间：3~5分钟内

三木科技的两槽式冷热冲击试验箱可根据客户的参数需求进行定制，并且严格遵循MIL-STD-202等国际标准，确保测试结果的准确性。

三木科技两槽式冷热冲击试验箱的特点：

双槽结构设计：

温度恢复快，避免单槽式设备因温度过渡导致的测试误差。

高温和低温环境完全隔离，确保温度稳定性

快速温度转换：

转换时间：通常≤10秒（样品从高温到低温或反之），满足严苛标准要求。

温变速率：部分机型可达30°C/min以上

精准温控与均匀性：

控温精度：±0.5°C ~ ±2°C（取决于型号）。

温度均匀性：±1°C ~ ±2.5°C（确保测试一致性）

数据记录与监控：

实时显示：温度曲线、循环次数、故障记录。

数据导出：支持USB/RS-485/以太网连接，兼容LabVIEW或专用软件。

从5G基站的射频模块到新能源汽车的功率半导体，电子半导体产品正朝着更高性能、更复杂环境应用的方向发展，对可靠性的要求越来越高。三木科技始终以客户需求为核心，致力于为全球客户提供专业、高效的环境测试设备。其符合MIL-STD-202的两槽式冷热冲击试验箱已成功应用于国内外多家知名半导体企业，助力客户提升产品可靠性。此外，三木科技还提供高低温湿热试验箱、ESS快速温变试验箱、三综合试验箱等测试设备，支持个性化定制服务。

如需获取专业的测试解决方案，请联系三木科技，我们将为您量身定制专业服务。