HAST高压加速老化试验箱

HAST高压加速老化试验箱专用于芯片、PCB等电子产品的可靠性寿命测试，通过非饱和高压蒸汽环境（如130℃/85%RH）极速模拟长期湿热老化效应，测试效率较传统高温高湿提升数倍，严格符合JESD22、IPC等国际标准，是半导体及电子封装行业进行加速寿命评估与缺陷筛选的关键设备。