CSSD消费级固态硬盘、ESSD工业级固态硬盘环境可靠性测试专用设备，专注解决SSD在极端温度环境下的性能验证、寿命测试、应力筛选需求，精准匹配-70℃～+150℃宽温范围，15℃/min全程线性温变，支持1.5KW发热负载带载测试，符合电子存储产品可靠性测试标准，为CSSD/ESSD产品研发、量产检测提供专业解决方案。

高低温试验箱是固态硬盘（SSD）可靠性测试的关键设备。针对消费级SSD（CSSD）和工业级SSD（ESSD）的不同需求，三木科技专用环境试验箱可模拟极端温度环境，验证产品在高温读写、低温启动、冷热冲击下的性能与数据完整性。

三木科技自主研发生产的BIB板高低温试验箱专为半导体及电子元件可靠性测试设计，通过精准的极端温度模拟，实现批量BIB板高效老化筛选。设备以高均匀性温场、快速温变响应及智能化控制为核心，确保测试结果的一致性与可重复性，助力提升产品耐久性验证效率。

三木科技的HAST高压加速老化试验箱采用高温、高湿、高压协同控制技术，专用于IC、半导体、光伏及封装材料等产品的可靠性加速寿命试验。通过非饱和/饱和蒸汽环境模拟，大幅缩短测试时间，为用户提供高效、精准的耐候性验证解决方案。

三木科技的快速温变试验箱专为加速产品可靠性测试而设计，它通过实现每分钟5℃至25℃的剧烈温度变化，在短时间内对测试品施加极限温度应力，高效激发并暴露其潜在缺陷，从而将数月乃至数年的自然老化过程浓缩至数天完成，大幅提升产品研发与品管效率。

两槽式冷热冲击试验箱采用高低温双箱体结构，通过精密控制的提篮机构，实现测试样品在高低温储温槽之间的快速转换。该设备专为测试材料、元器件及组件在剧烈、瞬变的温度冲击下的耐受性、性能衰减及失效模式而设计，是进行JESD22、MIL-STD等严苛可靠性测试的关键设备。

三木科技高低温湿热试验箱是一款高性能、节能型环境试验箱，可提供灵活的配置，模拟不同气候条件下的样品环境试验。它可以模拟高温、低温、交变湿度、恒定湿度等环境试验，适用于多个领域的试验需求。它与高低温交变湿度试验箱属于同一系列，是航空、汽车、家电和科研等领域必不可少的试验设备。